在SMT工廠中對(duì)于PCBA產(chǎn)品的功能檢測(cè)新技術(shù)層出不窮，如光學(xué)與X射線(xiàn)檢查、基于飛針或針床的電性能測(cè)試等,但SMT貼片加工的功能測(cè)試依然是檢測(cè)和保證產(chǎn)品最終功能質(zhì)量的主要方法。目前內(nèi)置自測(cè)試 (BIST)等技術(shù)應(yīng)用越來(lái)越多，這些技術(shù)可降低功能測(cè)試的成本，但也不能完全代替功能測(cè)試。尤其是對(duì)于在軍事、航空、汽車(chē)、交通、醫(yī)療等重要領(lǐng)域應(yīng)用的產(chǎn)品,或者成本及復(fù)雜程度非常高(如電信網(wǎng)絡(luò)、發(fā)電站等領(lǐng)域應(yīng)用)的產(chǎn)品，往往需要保證PCBA加工的產(chǎn)品自身以及與其他系統(tǒng)集成在一起時(shí)工作可靠,這時(shí)功能測(cè)試將是必須的。

SMT工廠的功能測(cè)試實(shí)際上是將一臺(tái)電子設(shè)備或一塊電路組件作為黑箱進(jìn)行處理，以該電路的 對(duì)外連接端口作為激勵(lì)或測(cè)試信號(hào)的輸入、輸出端口，按照該被測(cè)電路的正常工作狀態(tài)接通電源，通過(guò)在輸入端口加各種規(guī)定的輸入信號(hào)組合，及時(shí)檢測(cè)輸出端口的響應(yīng)信號(hào)，從而判斷該電路工作情況。SMT加工專(zhuān)用的功能測(cè)試系統(tǒng)所需硬件設(shè)備比較容易獲得，編程語(yǔ)言一般采用C/C+ + ,Visual Basic等高級(jí)語(yǔ)言。PCBA產(chǎn)品測(cè)試時(shí)可以通過(guò)輪詢(xún)或中斷方式用一臺(tái)設(shè)備同時(shí)接通多個(gè)被測(cè)電路，從而實(shí)現(xiàn)在檢測(cè)和試驗(yàn)過(guò)程訴如“老化”試驗(yàn)等）對(duì)多個(gè)電路模塊進(jìn)行全過(guò)程監(jiān)測(cè).

SMT工廠的PCBA功能測(cè)試涉及模擬、數(shù)字、存儲(chǔ)器、RF和電源電路，需要有針對(duì)性地采用不同的測(cè)試策略。測(cè)試內(nèi)容包括重要功能通路、結(jié)構(gòu)、電路動(dòng)態(tài)功能驗(yàn)證，確定有無(wú)電路硬件錯(cuò)誤等， 以彌補(bǔ)之前所進(jìn)行的在線(xiàn)測(cè)試過(guò)程中未能探知的部分。這就需要依據(jù)測(cè)試要求將模擬、數(shù)字激勵(lì)信號(hào)施加于被測(cè)電路模塊上，同時(shí)系統(tǒng)中的測(cè)量裝置要能監(jiān)測(cè)同等數(shù)量的模擬、數(shù)字響應(yīng)信號(hào)，并能控制其執(zhí)行時(shí)序及過(guò)程。功能測(cè)試可在產(chǎn)品制造生命周期不同階段實(shí)施。首先是SMT加工的工程開(kāi)發(fā)階段，在系統(tǒng)生產(chǎn)驗(yàn)證前確認(rèn)新產(chǎn)品功能;然后在生產(chǎn)過(guò)程中，作為整個(gè)流程的一部分，通過(guò)系統(tǒng)測(cè)試降低缺陷發(fā)現(xiàn)成本（遺漏成本）;最后,在發(fā)貨付運(yùn)階段也是不可缺少的,它可以減少在應(yīng)用現(xiàn)場(chǎng)維修的費(fèi)用，保證功能正常而不會(huì)被退貨。

SMT工廠的在線(xiàn)測(cè)試方案和功能測(cè)試方案各有其優(yōu)缺點(diǎn)，一般根據(jù)需要來(lái)選擇應(yīng)用哪一種方案。 產(chǎn)品質(zhì)量要求高的可以同時(shí)采用兩種方案進(jìn)行測(cè)試，先進(jìn)行在線(xiàn)測(cè)試，后進(jìn)行功能測(cè)試，以確保產(chǎn)品質(zhì)量。功能測(cè)試系統(tǒng)一般極少在電路組裝生產(chǎn)線(xiàn)中的某環(huán)節(jié)采用,通常都是 在成品檢驗(yàn)階段才投入使用。

如上所述，功能測(cè)試是用于組裝電路模塊的測(cè)試,但現(xiàn)在高集成度電子設(shè)備將線(xiàn)路板 和模塊又都放在一個(gè)可更換模組中，最終構(gòu)成電子設(shè)備或系統(tǒng)整體。針對(duì)不同測(cè)試對(duì)象，雖然測(cè)試儀結(jié)構(gòu)類(lèi)似，但測(cè)試程序以及測(cè)試對(duì)象的運(yùn)送過(guò)程、測(cè)試地點(diǎn)卻大不相同，為此功能測(cè)試也有多種形式。

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